掃描電鏡 日立電鏡 SEM電鏡 S-3400N

五軸電動馬達樣品臺，帶EDS能譜分析儀，提供安裝 保修 保養 長期供應電鏡的各種配件，價格低廉 低于市場價格 2008年產  日本日立電鏡

免費保修叁個月起 

1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。

2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

3. 新型5分割高靈敏半導體式背散射探頭，可在低加速電壓下成像。

4. S-3400N II型具有五軸馬達臺，傾斜角度可達-20度~+90度，樣品最高可達80mm。

5. 分析樣品室可以同時安裝EDS，WDS 及EBSD等附件。

6. 真空系統使用渦輪分子泵，潔凈、高效。

SE分辨率        3.0 nm (30 kV)，高真空模式

                        10 nm (3 kV)， 高真空模式

BSE分辨率               4.0 nm (30 kV)，低真空模式

放大倍率                ×5～×300，000

加速電壓                0.3～30 kV

低真空范圍              6～270 Pa

最大樣品尺寸            直徑200 mm

樣品臺                  I型                 II型

X                       0～80 mm            0～100 mm

Y                       0～40 mm            0～50 mm

Z                       5～35 mm            5～65 mm

R                       360o                360o

T                       -20～+90o           -20～+90o

最大樣品高度            35 mm (WD=10 mm)    80 mm (WD=10 mm)

馬達驅動                五軸馬達驅動

電子槍                  預對中鎢燈絲

物鏡光欄                可移動式4孔物鏡光欄

槍偏壓                  四階梯度偏壓

檢測器                  二次電子檢測器

                        高靈敏度半導體背散射電子檢測器

分析位置                WD=10 mm， TOA=35o

控制                    鼠標、鍵盤，手動旋鈕

自自動調校             自動燈絲飽和、自動四偏壓、自動槍對中、自動束流設定、

                       自動合軸、自動聚焦消像散、自動亮度對比度