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掃描電鏡 S-3000N 現貨在庫
發布時間: 2018-03-15
Hitachi S-3000N
儀器設備英文名稱及型號：Scanning Electron Microscope S-3000N
儀器設備名稱及型號：掃描電子顯微鏡 S-3000N
產地及廠家：日本，日立公司
主要技術指標：
點分辨率：點分辨率：6nm、最大放大倍數：20萬倍、最大加速電壓：30KV
功能及應用范圍：
生物醫學、醫學超微結構分析、超微病理診斷、納米材料分析
特性
（A）二次電子像解析度(SEI Resolution)：3.0nm。
（B）背向電子像解析度(BEI Resolution)：4.0nm。
（C）倍率(Magnification)：5~300,000 倍，能隨著加速電壓(Acc.V.)及工 作距離(W.D)改變而自動校正。
（D）加速電壓(Accelerating Voltage)：0.5~30kV
（E）探針電流(Probe Current)：10-12~10-8A
（F）可變真空掃瞄式之氣動閥全自動真空系統(真空值：1~270 Pa 可調 整)，并可顯示真空讀值。
（G）Chamber 大?。簶藴?6 吋樣品空間。
（I）樣品座移動范圍：X：80mm Y：40mm Z：5 to 35mm T：-20° to90度
